薄膜四探針方阻測試儀HPS58003是一(yi)款專門測量半導(dao)(dao)體薄(bo)層電阻(zu)(面(mian)電阻(zu))的(de)方塊電阻(zu)測試(shi)(shi)儀配用(yong)的(de)四探針測試(shi)(shi)探頭(tou)，可用(yong)于測量一(yi)般半導(dao)(dao)體材料(liao)、導(dao)(dao)電薄(bo)膜(ITO透明(ming)氧化膜)，塑(su)料(liao)薄(bo)膜、金屬(shu)薄(bo)膜、金屬(shu)鍍層等同類物(wu)質的(de)薄(bo)層電阻(zu)。

           帶(dai)彈簧測試(shi)探(tan)頭, 接觸可靠, 工作穩(wen)定(ding), . 使用(yong)時只要把探(tan)頭輕輕壓在被測鍍膜(mo)上面,   無需任何調節,新款方阻儀用(yong)5芯(xin)專用(yong)插(cha)座代替原有的(de)香蕉(jiao)插(cha)座，使得線纜(lan)不易折(zhe)損，探(tan)頭的(de)使用(yong)壽命極(ji)大延(yan)長。

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