測試(shi)參數(shu)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

 ;   四探針電(dian)阻率測(ce)試儀，可測(ce)量片狀(zhuang)、塊狀(zhuang)半(ban)導體(ti)材(cai)料的徑向和軸向電(dian)阻率及(ji)擴散層(ceng)的薄層(ceng)電(dian)阻，適用于半(ban)導體(ti)和太陽能材(cai)料測(ce)試的要求，也可對分(fen)立(li)電(dian)阻進行(xing)測(ce)量。

 專用四端探(tan)針測試(shi)線(xian)！